奥林巴斯45MG超声测厚仪

涂层测厚仪奥林巴斯45mg测厚仪 上海斌瑞供

45MG超声测厚仪:

操作简便、坚固耐用、性能可靠

45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高I级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。

 标准功能

 45MG仪器在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过ZUI基本的培训，就可完成ZUI常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为高I级的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。

l  与所有Olympus双晶探头兼容，可对内部腐蚀的金属的厚度进行测量

l  ZUI小值/ZUI大值模式

l  两个报警模式

l  差值模式

l  时基B扫描

l  缩减率

l  增益调整（标准、高、低）

l  密码式仪器锁定

带有可选橡胶保护套和支架的45MG仪器

 抵御恶劣环境的能力

 l  坚固耐用，设计符合IP67标准。

l  性气氛：可在国I家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组规定的性气氛环境中安I全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。

l  防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。

l  防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。

l  宽泛的操作温度范围

l  可选的带有支架的橡胶保护套

 简便操作的设计理念

 l  可只用右手或左手操作的简洁的键区

l  可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面

l  使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式

l  USB通讯端口

l  可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器

l  默认或自定义单晶探头设置（可选）

l  密码保护方式的仪器锁定

l  彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有极I佳的清晰度

 可选功能

只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激I活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途ZUI广I泛的测厚仪行列。

 回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。

单晶： 这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。

单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。

数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。

带有波形调整功能的实时A扫描： 用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中ZUI大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首I个回波空白、范围及延迟参数。

室内显示设置，可选A扫描模式

室外显示设置，可选A扫描模式

 使用双晶探头对腐蚀工件进行测量

 45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的剩余厚度。这些应用中ZUI常使用的是双晶探头。

 l  用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能

l  当校准过程中出现双回波时，会发出双回波警告

l  回波到回波/穿透涂层选项可测量带有漆层和涂层的表面

l  高温测量：温度可高达500 °C]

B扫描成像（基于时间）

 45MG仪器提供的B扫描功能，可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。在观察材料厚度在一定距离上发生的变化时，这个标准功能非常有用。探头一接触到材料表面，就会激I活B扫描。冻结ZUI小值功能用于显示扫查区域的ZUI小厚度值。可选45MG数据记录器ZUI多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。

室内显示设置，B扫描模式

 回波到回波/穿透涂层选项

 回波到回波

 测厚仪使用多个底面回波，显示不计涂层厚度的实际金属厚度：

l  自动回波到回波

l  手动回波到回波（*出现于A扫描选项），可进行以下操作：

Ø  增益调整

Ø  扩展空白