上海光电测试系统性能特点 诚信为本 上海明策供应

Inframet MTB面源黑体有优异的温度分辨率，时间稳定性，很高的温度均匀性和优异的温度精度。 所有这些功能使MTB系列黑体作为国家标准实验室或工业实验室温度标准的理想选择。

主要特性

高分辨率的温度调节（0.01ºC，优于市场上其他的黑体，通常这些黑体分辨率为0.1ºC）；非常好的时间稳定性（0.1ºC，优于市场上提供的其他黑体，通常为0.5ºC）；良好的温度均匀性（1ºC@125ºC，市场上其他黑体通常为3ºC@300x300mm）；所有的MTB黑体都由PC使用先进的温度稳定算法进行控制。 光电测量，保障乐器制造音准与品质。上海光电测试系统性能特点

TCB面源黑体用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的单独模块提供。Inframet可以提供高达500x500mm的发射面的TCB黑体（型号TCB-2oD）。

但是，应该注意的是，典型的小黑体TCB-2D/TCB-4D黑体与TCB-12D/TCB-2oD之间存在很大差异。后者的黑体要大得多，需要更大的功率，升温更慢，更昂贵。因此建议您选择自己合适的发射面尺寸即可。 上海光电测试系统性能特点INFRAMET SAFT 热成像光电测试系统，精确赋能制造业，提升质量检测效率。

NVS测量系统的比较大优点就是通过采用不同的透射式平行光管和一组靶标，能够测量所有类型的夜视仪。必须在测量前准备合适的平行光管，靶标和对准被测夜视器件。如果只测试短程夜视镜以及小型夜视设备的情况下推荐NVT/NV14测试

NVS夜视设备多功能测试系统是一个模块化的测试系统，可测试长程夜视瞄准设备，同时支持测试短程夜视镜及双目夜视镜。因此NVS测试系统是一个多功能测试系统。NVS测试系统采用模块化设计，包括一组可切换的透射式光管、可移动的光源和一组靶标等模块。

ORI光学镜头测试系统是一台通用型光学镜头测试系统。该系统可以测量镜头的所有重要参数：MTF，分辨率，EFL，畸变，渐晕，透过率，BFL，工作焦距，焦深，场曲，色差等。可测试波段涵盖了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR，也可用于测试多波段光学系统，列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。

ORI测试系统原理：目标发生器放置在被测镜头的焦平面上形成一套投影系统，透射出的平行光入射平行光管，蕞终成像到相机的接收面上。ORI测试系统蕞大的特点是采用逆光路测量原理，较一般正光路的测量系统具有独特的优势。 光电系统，应用于文物展览，确保展品安全展示。

SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置，所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距，小口径，宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时，我们也提供额外的折射光管供客户选择。由于SAFT把一系列的分辨率片装在了电动光栅上所以它可以快速地测量热像仪的各种参数。一般SAFT由TCB-2D黑体，一组分辨率片，ARC-500屏蔽装置，PC，抓帧器，TAM软件，还有一些可选模块组成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被测热像仪上，根据被测热像仪所产生的扭曲图像副本再结合软件或者主观判断我们可以衡量出该被测热像仪的性能，另外热像仪的一些重要参数也都包含在了测量项目中。inframetORl 光学镜头测试系统INFRAMET 测试系统，提升船舶制造精度与安全性。上海光电测试系统性能特点

Inframet DT 热成像光电测试系统，精细分析，助力医疗行业技术革新。上海光电测试系统性能特点

DTR短焦热像仪测试系统是传统DT热像仪测试系统的一个特殊版本。这两个系统都是将一系列的标准靶标投影出去，被测热像仪接收成像。DT系统使用了较长焦距和大孔径的离轴反射式光管，而DTR系统则使用较短焦距和小孔径的透射式光管。因此，相同的红外靶标由DTR系统投射后，被测热像仪接收的图像比由DT系统透射出的要更大。从数学上讲，DTR系统可以投射出比典型DT系统空间频率要低几倍的4杆靶图像。

DTR测试系统在测试过程中，被测热像仪的奈奎斯特空间频率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(热像仪的探测器像元尺寸17um，物镜焦距0.68mm)，可满足市场上大多数大视场热像仪的测量需求。另外DTR测试系统提供2个不同焦距和视场的光管供选择，可根据被测热像仪的分辨率和视场来选择适用的光管。通常DTR测试系统提供测试长波热像仪的配置，可选配测量中波热像仪。 上海光电测试系统性能特点